双层开关柜，由于上下两层装两个出线回路，以IPV-DUAL为例，主母线2500A~4000A，550mm宽上下两个1250A出线，由于双层出线，1250A额定电流不能按照一般中置柜排规考虑，即一般窄型550开关柜采用2拼10x40铜排，但这对于双层柜是不够的。
因为上下双层，一台开关柜的发热量相当于两台开关柜，虽然导电回路长度会减少，但核心发热元件如断路器、电流互感器等都在，而且下层热量会传递到上层，累积发热量大；另外，即使只有主母线一小段需要通过2500A的电流，但由于发热功率是与电流的平方乘积，因此很小一段的发热也很大。
因此必须重新计算发热量，选择合适的铜排截面来降低电阻，增大散热面积，柜体设计散热通道通过对流来加大散热。如下表采用TNT电阻计算，断路器电阻1250A是45μΩ，因此需要采用2-10x80铜排作为分支母排温升才能满足要求。铜排规格是普通中置柜的两倍，除了双层热量累积的原因，宽度550mm，比一般800mm小了很多，也是需要增加铜排，减少自身发热的原因。
按下表铜排规格设计试验，试验值与计算值基本吻合。
关于温升试验方式，有些试验站对双层柜采用上下回路串联方式直接通1250A电流进行试验，这种试验方式不能真实反映实际使用情况，因为正常使用时主母线通2500A电流，两个出线1250A电流，需要按照相同的方式试验，即通过变压器直接连接开关柜主母线输入2500A电流，两个出线回路通过调节负载实现各1250A电流，和低压开关柜每个出线回路均通额定电流试验相同。
下面是西高所专家进行按两种方式进行的试验，接线方式1是主母排2500A进线，上下两个1250A出线，方式2是采用串联方式1250A试验。结果显示采用接线方式 1 进行温升试验，其 A 、 B 、 C 试验结果值都高于按接线方式 2 进行的试验。
接线方式 1与接线方式 2 对比， 开关柜 A 相温升测量结果，最大偏差值出现在第 9 个测量点，偏差量为 18.9 K ；B相温升测量结果，最大偏差值出现在第 9 个测量点，偏差量为 23.4 K ；C 相温升测量结果，最大偏差值出现在第 13 个测量点，偏差量为 22.9 K 。
可见，在模拟开关柜的运行工况的接线方式下，即接线方式 1 的情况下， 对开关柜的考核比简化的接线方式，即接线方式 2 ，要更加严格，更能反映实际应用情况。增加铜排保证两个断路器都是额定电流1250 A温升提高试验。如果不增加铜排则需要断路器降容使用。
美标低压柜标准对多层断路器采用不同的降容系数 即分布系数。根据断路器数量，从下往上对允许负载按额定值比例定义，如四个断路器，最下面90%，倒数第二75%，靠近上部的60%，最上边50%。这是很有道理的，热气由底部向顶部流动，上部累积的热气非常大，开关设备本身发热加下部上来的热量使得顶部断路器温升很高，因此对于中压双层断路器开关柜也是一样，上面的断路器需要加大铜排减少自身发热。其它三框架、两框架断路器也是相应规定。
因此按照计算降容，双层断路器下层90%，即1250*0.9=1125A，上层断路器75%，即1250*0.75=937.5A。如果按照这样的额定电流值使用，上下分支母线就不需要增大到双倍用量的铜排。
因此开关柜的设计要求需要根据应用及设备能力平衡决定，对于断路器出线柜是根据负载容量决定电流的，所以开关柜厂家可以定义产品的各回路电流等级，而不是都按满容量设计，增加铜排用量，而实际使用电流就小情况下又不便随意更改铜排。
对于双层柜的设计更是不能单纯依靠经验采用中置柜采用的铜排规格，需要增加规格，否则温升超标，后期使用可能出现隐患。建议按照水平母线进线，上下出线回路按照电流负载，模拟真实使用情况进行温升试验，以确保安全！
来源：会说电气
